در نامه به رئیس دیوان عدالت اداری مطرح شد؛
تقاضای ابطال حکم ظریف توسط رئیس کمیسیون امنیت ملی و سیاست خارجی مجلس
فناوری جدید میکروسکوپی اشعه x
این ثبت اختراع درخشان یک مسیر رو به جلو برای تعیین به طور همزمان ساختار فیزیکی و ترکیب شیمیایی مواد نزدیک به سطح اتمی با استفاده از ترکیبی از تکنیک‌های میکروسکوپی است.
به گزارش خبرنگار علمی باشگاه خبرنگاران به نقل از سایت Phus org دانشمندان یک فناوری جدیدی را توسعه داده‌اند که قابلیت‌های قدرتمند تجزیه و تحلیل اشعه‌ی X و STM را به هم متصل می کند.
منابع نور سنکروترون برای شناسایی مواد در فیزیک ماده چگال، علم مواد، شیمی، زیست شناسی و علوم انرژی استفاده می‌شود . با این حال با بهترین میکروسکوپ سنکروترون اشعه ایکس موجود تا به امروز تصویر برداری شیمیایی مستقیم زیر حد فضایی 10 نانو متر به دست نمی‌آید.
در حال حاضر دانشمندان می‌توانند از سطوح به طور شیمیایی انگشت نگاری کنند و بر محدودیت مکانی غلبه کنند.
درک جامع از سیستم‌هایی با مقیاس نانو نیاز به ابزارهایی با دوقابلیت برای حل و فصل ساختارهای نانو متری به خوبی مشاهده مستقیم ترکیب شیمیایی و خواص مغناطیسی است.
روش میکروسکوپی اشعه X، حساسیت مغناطیسی و شیمیایی ریز ساختارها محدود است از سوی دیگر اسکن میکروسکوپی تونل زنی (STM) ما را به قدرت تفکیک مکانی بالای مورد نیاز می‌رساند اما یک نقطه ضعف اساسی دارد این روش از لحاظ شیمیایی کوراست. در نتیجه دانشمندان در پی جفت‌سازی این دو روش هستند.
توسعه سازی فناوری جدید مبنی بر مربوط ساختن دو روش اشعهX و STM از طریق توسعه پروبهای چند لایه کواکسیال نانو ساختار هوشمند امکان پذیر است این پروبها به عنوان آشکار ساز در میکروسکوپ به کار می‌روند.
انتهای پیام/
